MEMORY BUILT-IN SELF-TEST FOR A DATA PROCESSING APPARATUS

A data processing apparatus has at least one memory and processing circuitry. A memory built-in self-test (MBIST) interface receives a MBIST request indicating that a test procedure is to be performed for testing at least one target memory location. Control circuitry detects the MBIST request and reserves for testing at least one reserved memory location including the target memory location. During the test procedure, the memory continues servicing memory transactions issued by the processing circuitry that target a memory location other than the reserved location reserved by the control circuitry. The processing circuitry is stalled if the processing circuitry attempts to access a reserved memory location. Testing consists of short bursts of transactions which occur infrequently. In this way, MBIST testing may continue while the processor is operation in the field with reduced performance impact. 데이터 처리장치는 적어도 한 개의 메모리와 처리회로를 갖는다. 메모리 내장 자체 테스트(MBIST) 인터페이스는 적어도 한 개의 타겟 메모리 위치를 테스트하기 위해 테스트 절차를 행해야 한다는 것을 나타내는 MBIST 요구를 수신한다. 제어회로는, MBIST 요구를 검출하고, 타겟 메모리 위치를 포함하는 적어도 한 개의 예약 메모리 위치를 테스트하는 것을 예약한다. 테스트 절차 중에, 메모리는 제어회로에 의해 예약된 예약 위치 이외의 메모리 위치를 타겟으로 하는 처리회로에 의해 발행된 메모리 트랜잭션들을 계속 서비스한다. 처리회로가 예약 메모리 위치를 액세스하려고 시도하면 이 처리회로가 정지된다. 테스트는 드물게 발생하는 트랜잭션들의 짧은 버스트들로 구성된다. 이에 따르면, 프로세서가 필드에서 동작하고 있는 동안 MBIST 테스트를 계속하므로 성능상의 영향이 줄어든다.