SYSTEMS FOR PROVIDING ILLUMINATION IN OPTICAL METROLOGY
본 개시는 조명을 광 계측을 위한 측정 헤드로 제공하는 시스템에 관한 것이다. 본 개시의 일부 실시예에서, 복수의 조명원으로부터 조명 빔은 하나 이상의 선택된 파장의 조명을 측정 헤드로 전달하기 위해 결합된다. 본 개시의 일부 실시예에서, 측정 헤드로 전달된 조명의 세기 및/또는 공간적 간섭이 제어된다. 본 개시의 일부 실시예에서, 하나 이상의 선택된 파장의 조명이 연속하는 파장 범위의 조명을 제공하기 위해 구성된 광대역 조명원으로부터 전달된다. A system for providing illumination to a measure...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | 본 개시는 조명을 광 계측을 위한 측정 헤드로 제공하는 시스템에 관한 것이다. 본 개시의 일부 실시예에서, 복수의 조명원으로부터 조명 빔은 하나 이상의 선택된 파장의 조명을 측정 헤드로 전달하기 위해 결합된다. 본 개시의 일부 실시예에서, 측정 헤드로 전달된 조명의 세기 및/또는 공간적 간섭이 제어된다. 본 개시의 일부 실시예에서, 하나 이상의 선택된 파장의 조명이 연속하는 파장 범위의 조명을 제공하기 위해 구성된 광대역 조명원으로부터 전달된다.
A system for providing illumination to a measurement head for optical metrology is configured to combine illumination beams from a plurality of illumination sources to deliver illumination at one or more selected wavelengths to the measurement head. The intensity and/or spatial coherence of illumination delivered to the measurement head is controlled. Illumination at one or more selected wavelengths is delivered from a broadband illumination source configured for providing illumination at a continuous range of wavelengths. |
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