METHODS AND STRUCTURES FOR FORMING AND PROTECTING THIN FILMS ON SUBSTRATES

기판 상에 박막을 형성하기 위한 방법이 개시된다. 방법은 불소를 갖는 제1 가스를 유동시킴으로써 공정 챔버를 세정하는 단계(402)를 포함한다. 방법은 또한 제1 지속 기간 동안 제2 가스를 유동시킴으로써 비정질 규소(A-Si)를 포함하는 제1 봉지 층으로 공정 챔버를 코팅하는 단계(404)를 포함하고, 여기서 제1 봉지 층은 불소 오염으로부터 보호한다. 방법은 기판을 공정 챔버 내로 로딩하는 단계(406), 제3 가스를 공정 챔버 내로 유동시킴으로써 기판 상에 박막을 침착시키는 단계(408), 및 공정 챔버로부터 기판을 언로딩하는...

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Hauptverfasser: WONG JIA YI, QIU THOMAS
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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creator WONG JIA YI
QIU THOMAS
description 기판 상에 박막을 형성하기 위한 방법이 개시된다. 방법은 불소를 갖는 제1 가스를 유동시킴으로써 공정 챔버를 세정하는 단계(402)를 포함한다. 방법은 또한 제1 지속 기간 동안 제2 가스를 유동시킴으로써 비정질 규소(A-Si)를 포함하는 제1 봉지 층으로 공정 챔버를 코팅하는 단계(404)를 포함하고, 여기서 제1 봉지 층은 불소 오염으로부터 보호한다. 방법은 기판을 공정 챔버 내로 로딩하는 단계(406), 제3 가스를 공정 챔버 내로 유동시킴으로써 기판 상에 박막을 침착시키는 단계(408), 및 공정 챔버로부터 기판을 언로딩하는 단계(410)를 추가로 포함한다. 박막은 질화규소(SiN)를 포함할 수 있고, 제1 가스는 삼불화질소(NF) 가스를 포함할 수 있으며, 제2 가스는 실란(SiH) 가스를 포함할 수 있다. 박막은 플라즈마-강화 화학 증착을 사용하여 형성될 수 있다. 기판은 태양 전지 또는 액정 디스플레이(LCD)일 수 있다. A method for forming of a thin film on a substrate is disclosed. The method includes cleaning a process chamber by flowing a first gas having fluorine. The method also includes coating the process chamber with a first encapsulating layer including amorphous silicon (A-Si) by flowing a second gas for a first duration, where the first encapsulating layer protects against fluorine contamination. The method further includes loading a substrate into the process chamber, depositing a thin film on the substrate by flowing a third gas into the process chamber and unloading the substrate from the process chamber. The thin film can include silicon nitride (SiN), the first gas can include nitrogen triflouride (NF3) gas and second gas can include silane (SiH4) gas. The thin film can be formed using plasma-enhanced chemical vapor deposition. The substrate can be a solar cell or a liquid crystal display (LCD).
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20150065743A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20150065743A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20150065743A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPDydQ3x8HcJVnD0c1EIDgkKdQ4JDXINVnDzDwJhX08_d7BUQJB_iKtzCIgb4uHpp-Dm6eMbrODvpxAc6gTU5hjiGszDwJqWmFOcyguluRmU3VxDnD10Uwvy41OLCxKTU_NSS-K9g4wMDE0NDMxMzU2MHY2JUwUAMYougA</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHODS AND STRUCTURES FOR FORMING AND PROTECTING THIN FILMS ON SUBSTRATES</title><source>esp@cenet</source><creator>WONG JIA YI ; QIU THOMAS</creator><creatorcontrib>WONG JIA YI ; QIU THOMAS</creatorcontrib><description>기판 상에 박막을 형성하기 위한 방법이 개시된다. 방법은 불소를 갖는 제1 가스를 유동시킴으로써 공정 챔버를 세정하는 단계(402)를 포함한다. 방법은 또한 제1 지속 기간 동안 제2 가스를 유동시킴으로써 비정질 규소(A-Si)를 포함하는 제1 봉지 층으로 공정 챔버를 코팅하는 단계(404)를 포함하고, 여기서 제1 봉지 층은 불소 오염으로부터 보호한다. 방법은 기판을 공정 챔버 내로 로딩하는 단계(406), 제3 가스를 공정 챔버 내로 유동시킴으로써 기판 상에 박막을 침착시키는 단계(408), 및 공정 챔버로부터 기판을 언로딩하는 단계(410)를 추가로 포함한다. 박막은 질화규소(SiN)를 포함할 수 있고, 제1 가스는 삼불화질소(NF) 가스를 포함할 수 있으며, 제2 가스는 실란(SiH) 가스를 포함할 수 있다. 박막은 플라즈마-강화 화학 증착을 사용하여 형성될 수 있다. 기판은 태양 전지 또는 액정 디스플레이(LCD)일 수 있다. A method for forming of a thin film on a substrate is disclosed. The method includes cleaning a process chamber by flowing a first gas having fluorine. The method also includes coating the process chamber with a first encapsulating layer including amorphous silicon (A-Si) by flowing a second gas for a first duration, where the first encapsulating layer protects against fluorine contamination. The method further includes loading a substrate into the process chamber, depositing a thin film on the substrate by flowing a third gas into the process chamber and unloading the substrate from the process chamber. The thin film can include silicon nitride (SiN), the first gas can include nitrogen triflouride (NF3) gas and second gas can include silane (SiH4) gas. The thin film can be formed using plasma-enhanced chemical vapor deposition. The substrate can be a solar cell or a liquid crystal display (LCD).</description><language>eng ; kor</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; CHEMICAL SURFACE TREATMENT ; CHEMISTRY ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL ; COATING METALLIC MATERIAL ; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL ; METALLURGY ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20150615&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20150065743A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20150615&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20150065743A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>WONG JIA YI</creatorcontrib><creatorcontrib>QIU THOMAS</creatorcontrib><title>METHODS AND STRUCTURES FOR FORMING AND PROTECTING THIN FILMS ON SUBSTRATES</title><description>기판 상에 박막을 형성하기 위한 방법이 개시된다. 방법은 불소를 갖는 제1 가스를 유동시킴으로써 공정 챔버를 세정하는 단계(402)를 포함한다. 방법은 또한 제1 지속 기간 동안 제2 가스를 유동시킴으로써 비정질 규소(A-Si)를 포함하는 제1 봉지 층으로 공정 챔버를 코팅하는 단계(404)를 포함하고, 여기서 제1 봉지 층은 불소 오염으로부터 보호한다. 방법은 기판을 공정 챔버 내로 로딩하는 단계(406), 제3 가스를 공정 챔버 내로 유동시킴으로써 기판 상에 박막을 침착시키는 단계(408), 및 공정 챔버로부터 기판을 언로딩하는 단계(410)를 추가로 포함한다. 박막은 질화규소(SiN)를 포함할 수 있고, 제1 가스는 삼불화질소(NF) 가스를 포함할 수 있으며, 제2 가스는 실란(SiH) 가스를 포함할 수 있다. 박막은 플라즈마-강화 화학 증착을 사용하여 형성될 수 있다. 기판은 태양 전지 또는 액정 디스플레이(LCD)일 수 있다. A method for forming of a thin film on a substrate is disclosed. The method includes cleaning a process chamber by flowing a first gas having fluorine. The method also includes coating the process chamber with a first encapsulating layer including amorphous silicon (A-Si) by flowing a second gas for a first duration, where the first encapsulating layer protects against fluorine contamination. The method further includes loading a substrate into the process chamber, depositing a thin film on the substrate by flowing a third gas into the process chamber and unloading the substrate from the process chamber. The thin film can include silicon nitride (SiN), the first gas can include nitrogen triflouride (NF3) gas and second gas can include silane (SiH4) gas. The thin film can be formed using plasma-enhanced chemical vapor deposition. The substrate can be a solar cell or a liquid crystal display (LCD).</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</subject><subject>CHEMISTRY</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</subject><subject>COATING METALLIC MATERIAL</subject><subject>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</subject><subject>METALLURGY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2015</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPDydQ3x8HcJVnD0c1EIDgkKdQ4JDXINVnDzDwJhX08_d7BUQJB_iKtzCIgb4uHpp-Dm6eMbrODvpxAc6gTU5hjiGszDwJqWmFOcyguluRmU3VxDnD10Uwvy41OLCxKTU_NSS-K9g4wMDE0NDMxMzU2MHY2JUwUAMYougA</recordid><startdate>20150615</startdate><enddate>20150615</enddate><creator>WONG JIA YI</creator><creator>QIU THOMAS</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20150615</creationdate><title>METHODS AND STRUCTURES FOR FORMING AND PROTECTING THIN FILMS ON SUBSTRATES</title><author>WONG JIA YI ; QIU THOMAS</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20150065743A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2015</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</topic><topic>CHEMISTRY</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</topic><topic>COATING METALLIC MATERIAL</topic><topic>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</topic><topic>METALLURGY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>WONG JIA YI</creatorcontrib><creatorcontrib>QIU THOMAS</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>WONG JIA YI</au><au>QIU THOMAS</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHODS AND STRUCTURES FOR FORMING AND PROTECTING THIN FILMS ON SUBSTRATES</title><date>2015-06-15</date><risdate>2015</risdate><abstract>기판 상에 박막을 형성하기 위한 방법이 개시된다. 방법은 불소를 갖는 제1 가스를 유동시킴으로써 공정 챔버를 세정하는 단계(402)를 포함한다. 방법은 또한 제1 지속 기간 동안 제2 가스를 유동시킴으로써 비정질 규소(A-Si)를 포함하는 제1 봉지 층으로 공정 챔버를 코팅하는 단계(404)를 포함하고, 여기서 제1 봉지 층은 불소 오염으로부터 보호한다. 방법은 기판을 공정 챔버 내로 로딩하는 단계(406), 제3 가스를 공정 챔버 내로 유동시킴으로써 기판 상에 박막을 침착시키는 단계(408), 및 공정 챔버로부터 기판을 언로딩하는 단계(410)를 추가로 포함한다. 박막은 질화규소(SiN)를 포함할 수 있고, 제1 가스는 삼불화질소(NF) 가스를 포함할 수 있으며, 제2 가스는 실란(SiH) 가스를 포함할 수 있다. 박막은 플라즈마-강화 화학 증착을 사용하여 형성될 수 있다. 기판은 태양 전지 또는 액정 디스플레이(LCD)일 수 있다. A method for forming of a thin film on a substrate is disclosed. The method includes cleaning a process chamber by flowing a first gas having fluorine. The method also includes coating the process chamber with a first encapsulating layer including amorphous silicon (A-Si) by flowing a second gas for a first duration, where the first encapsulating layer protects against fluorine contamination. The method further includes loading a substrate into the process chamber, depositing a thin film on the substrate by flowing a third gas into the process chamber and unloading the substrate from the process chamber. The thin film can include silicon nitride (SiN), the first gas can include nitrogen triflouride (NF3) gas and second gas can include silane (SiH4) gas. The thin film can be formed using plasma-enhanced chemical vapor deposition. The substrate can be a solar cell or a liquid crystal display (LCD).</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; kor
recordid cdi_epo_espacenet_KR20150065743A
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
CHEMICAL SURFACE TREATMENT
CHEMISTRY
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL
COATING METALLIC MATERIAL
DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL
METALLURGY
SEMICONDUCTOR DEVICES
SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION
title METHODS AND STRUCTURES FOR FORMING AND PROTECTING THIN FILMS ON SUBSTRATES
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-05T17%3A19%3A27IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=WONG%20JIA%20YI&rft.date=2015-06-15&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20150065743A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true