DETECTION METHOD, MICROARRAY ANALYSIS METHOD AND FLUORESCENCE READING DEVICE
본 발명은, 기판의 높이의 차이를 정확하게 검출 가능한 화상을 취득하는 것이 가능한 검출 방법, 마이크로어레이의 해석 방법 및 형광 판독 장치를 제공하는 것이다. 렌즈에 의해 집광된 레이저광을 요철 형상을 갖는 기판에 조사하고, 기판으로부터의 반사광 및/또는 산란광의 수광 강도를 화상 데이터로서 취득하여 요철 형상의 높이의 차이를 검출하는 검출 방법이며, 렌즈의 초점 위치보다도 렌즈에 가까운 위치에 기판의 광조사면을 배치하고, 광조사면으로부터의 반사광 및/또는 산란광을 검출광으로서 수광하여, 수광한 광의 강도의 변화에 기초하여 기판...
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| Format: | Patent |
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| creator | YOSHIKAWA SYUNPEI NAGINO KUNIHISA |
| description | 본 발명은, 기판의 높이의 차이를 정확하게 검출 가능한 화상을 취득하는 것이 가능한 검출 방법, 마이크로어레이의 해석 방법 및 형광 판독 장치를 제공하는 것이다. 렌즈에 의해 집광된 레이저광을 요철 형상을 갖는 기판에 조사하고, 기판으로부터의 반사광 및/또는 산란광의 수광 강도를 화상 데이터로서 취득하여 요철 형상의 높이의 차이를 검출하는 검출 방법이며, 렌즈의 초점 위치보다도 렌즈에 가까운 위치에 기판의 광조사면을 배치하고, 광조사면으로부터의 반사광 및/또는 산란광을 검출광으로서 수광하여, 수광한 광의 강도의 변화에 기초하여 기판의 높이의 차이를 검출한다.
A detecting method, a microarray analyzing method, and a fluorescence reading device, which enable acquirement of an image, from which a height difference of a substrate is detectable, are provided. In a detecting method of irradiating a substrate having a concave and convex shape with laser light collected by a lens, acquiring, as image data, received light intensity of reflected light and/or scattered light from the substrate, and detecting a height difference of the concave and convex shape, a light irradiation surface of the substrate is arranged at a position closer to the lens than a focal position of the lens is, reflected light and/or scattered light from the light irradiation surface is received as detected light, and a height difference of the substrate is detected based on a change in intensity of the received light. |
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A detecting method, a microarray analyzing method, and a fluorescence reading device, which enable acquirement of an image, from which a height difference of a substrate is detectable, are provided. In a detecting method of irradiating a substrate having a concave and convex shape with laser light collected by a lens, acquiring, as image data, received light intensity of reflected light and/or scattered light from the substrate, and detecting a height difference of the concave and convex shape, a light irradiation surface of the substrate is arranged at a position closer to the lens than a focal position of the lens is, reflected light and/or scattered light from the light irradiation surface is received as detected light, and a height difference of the substrate is detected based on a change in intensity of the received light.</description><language>eng ; kor</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150610&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20150064067A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150610&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20150064067A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>YOSHIKAWA SYUNPEI</creatorcontrib><creatorcontrib>NAGINO KUNIHISA</creatorcontrib><title>DETECTION METHOD, MICROARRAY ANALYSIS METHOD AND FLUORESCENCE READING DEVICE</title><description>본 발명은, 기판의 높이의 차이를 정확하게 검출 가능한 화상을 취득하는 것이 가능한 검출 방법, 마이크로어레이의 해석 방법 및 형광 판독 장치를 제공하는 것이다. 렌즈에 의해 집광된 레이저광을 요철 형상을 갖는 기판에 조사하고, 기판으로부터의 반사광 및/또는 산란광의 수광 강도를 화상 데이터로서 취득하여 요철 형상의 높이의 차이를 검출하는 검출 방법이며, 렌즈의 초점 위치보다도 렌즈에 가까운 위치에 기판의 광조사면을 배치하고, 광조사면으로부터의 반사광 및/또는 산란광을 검출광으로서 수광하여, 수광한 광의 강도의 변화에 기초하여 기판의 높이의 차이를 검출한다.
A detecting method, a microarray analyzing method, and a fluorescence reading device, which enable acquirement of an image, from which a height difference of a substrate is detectable, are provided. In a detecting method of irradiating a substrate having a concave and convex shape with laser light collected by a lens, acquiring, as image data, received light intensity of reflected light and/or scattered light from the substrate, and detecting a height difference of the concave and convex shape, a light irradiation surface of the substrate is arranged at a position closer to the lens than a focal position of the lens is, reflected light and/or scattered light from the light irradiation surface is received as detected light, and a height difference of the substrate is detected based on a change in intensity of the received light.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2015</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPBxcQ1xdQ7x9PdT8HUN8fB30VHw9XQO8ncMCnKMVHD0c_SJDPYMhsoB-S4Kbj6h_kGuwc6ufs6uCkGuji6efu4KLq5hns6uPAysaYk5xam8UJqbQdnNNcTZQze1ID8-tbggMTk1L7Uk3jvIyMDQ1MDAzMTAzNzRmDhVAGjYLrI</recordid><startdate>20150610</startdate><enddate>20150610</enddate><creator>YOSHIKAWA SYUNPEI</creator><creator>NAGINO KUNIHISA</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20150610</creationdate><title>DETECTION METHOD, MICROARRAY ANALYSIS METHOD AND FLUORESCENCE READING DEVICE</title><author>YOSHIKAWA SYUNPEI ; NAGINO KUNIHISA</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20150064067A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2015</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>YOSHIKAWA SYUNPEI</creatorcontrib><creatorcontrib>NAGINO KUNIHISA</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>YOSHIKAWA SYUNPEI</au><au>NAGINO KUNIHISA</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DETECTION METHOD, MICROARRAY ANALYSIS METHOD AND FLUORESCENCE READING DEVICE</title><date>2015-06-10</date><risdate>2015</risdate><abstract>본 발명은, 기판의 높이의 차이를 정확하게 검출 가능한 화상을 취득하는 것이 가능한 검출 방법, 마이크로어레이의 해석 방법 및 형광 판독 장치를 제공하는 것이다. 렌즈에 의해 집광된 레이저광을 요철 형상을 갖는 기판에 조사하고, 기판으로부터의 반사광 및/또는 산란광의 수광 강도를 화상 데이터로서 취득하여 요철 형상의 높이의 차이를 검출하는 검출 방법이며, 렌즈의 초점 위치보다도 렌즈에 가까운 위치에 기판의 광조사면을 배치하고, 광조사면으로부터의 반사광 및/또는 산란광을 검출광으로서 수광하여, 수광한 광의 강도의 변화에 기초하여 기판의 높이의 차이를 검출한다.
A detecting method, a microarray analyzing method, and a fluorescence reading device, which enable acquirement of an image, from which a height difference of a substrate is detectable, are provided. In a detecting method of irradiating a substrate having a concave and convex shape with laser light collected by a lens, acquiring, as image data, received light intensity of reflected light and/or scattered light from the substrate, and detecting a height difference of the concave and convex shape, a light irradiation surface of the substrate is arranged at a position closer to the lens than a focal position of the lens is, reflected light and/or scattered light from the light irradiation surface is received as detected light, and a height difference of the substrate is detected based on a change in intensity of the received light.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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| title | DETECTION METHOD, MICROARRAY ANALYSIS METHOD AND FLUORESCENCE READING DEVICE |
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