MESURING PROBE FOR SAMPLING IN MELTED METALS
The present invention relates to a probe for sampling in molten metal having a measuring head arranged in the immersed end of a supporting tube. The measuring head comprises one or more sample chambers. Each sample chamber has a transfer channel. One end of the transfer channel is opened into the sa...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | The present invention relates to a probe for sampling in molten metal having a measuring head arranged in the immersed end of a supporting tube. The measuring head comprises one or more sample chambers. Each sample chamber has a transfer channel. One end of the transfer channel is opened into the sample chamber. The second end of the transfer channel protrudes from the front surface of the measuring head positioned in the other side of the supporting tube. The probe comprises: a transfer opening covered by a protective cap. A protective shield is arranged in the outside of the transfer channel positioned in the upstream of the transfer opening along the transferred direction while being separated from the transfer opening at a predetermined distance. The protective shield covers the transfer opening and does not surround the whole lateral side of the transfer channel.
본 발명은 지지 튜브의 침지 단부 상에 배치되는 측정 헤드를 갖는, 용융 금속, 특히 용강에서의 샘플링을 위한 측정 프로브에 관한 것으로서, 상기 측정 헤드는 적어도 하나의 샘플 챔버를 포함하고, 상기 샘플 챔버는 이송 채널을 포함하며, 이송 채널의 일단부는 샘플 챔버 내로 개방되고 이송 채널의 제2 단부는 지지 튜브의 반대쪽에 있는 측정 헤드의 전면으로부터 돌출되고 보호 캡에 의해 덮이는 이송 개구를 포함하며, 이송 개구로부터 소정 거리에서 이송 방향으로 이송 개구의 상류측의 이송 채널의 외측에 보호 실드가 배치되고, 보호 실드는 이송 개구를 덮으며 보호 실드는 이송 채널을 측방향으로 완전히 둘러싸지 않는 것을 특징으로 한다. |
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