MONITORING BURN-IN TEST METHOD FOR A DIAGONAL CELL STRUCTURE MEMORY

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BANG, JEONG HO, YOO, DONG GYUN, KIM, HYUN JA, CHO, KEUN WON, KIM, YOUNG JOO, LEE, HWA CHEOL, CHO, BYUNG HOO
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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