Image quality analysis method and system for display device by using the fractal dimension
PURPOSE: A method and a system of analyzing the quality of a display device using fractal dimension are provided to realize objective valuation of a display device by quantizing the quality of the display device. CONSTITUTION: A predetermined image pattern is output to a display device to analyze th...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | PURPOSE: A method and a system of analyzing the quality of a display device using fractal dimension are provided to realize objective valuation of a display device by quantizing the quality of the display device. CONSTITUTION: A predetermined image pattern is output to a display device to analyze the quality(301). A picture display area of the display device where a half gray image is output is segmented, and data for measuring the data of each segmented picture display area is calculated(302). The calculated data are considered as time series data to be arranged, and a fractal dimension exponent is obtained from the arranged time serial data(303). The fractal dimension exponent is judged as a scale of the uniformity of the quality of the display device(304).
본 발명에 따른 프랙탈 차원을 이용한 디스플레이 장치의 화질 분석 방법은, 화질 분석을 위한 영상 패턴을 출력시키는 단계와; 영상 패턴이 출력되는 화면 표시 영역을 세분화하고, 그 세분화된 화면 표시 영역 각각에 대하여 화질 측정용 데이터를 산출하는 단계와; 산출된 화질 측정용 데이터를 시계열적인 데이터로 나열하고 프랙탈 차원 지수를 구하는 단계; 및 구해진 프랙탈 차원 지수를 상기 디스플레이 장치에 대한 화질의 균일성 척도로 판단하는 단계; 를 포함한다. 또한, 프랙탈 차원 지수를 구하는 단계는, 세분화된 각 화면 표시 영역으로부터 산출된 화질 측정용 데이터 값(X)을 시계열적인 데이터로 나열하는 단계와; 나열된 시계열적인 데이터에 대하여, 설정된 지연시간(T)에 따라, n 차원의 벡터열을 구성하는 단계와; 매립정리를 이용하여, n 차원의 벡터열로부터 각 벡터열에 대하여 1 내지 p의 매립차원 벡터를 재구성하고, 재구성된 각 매립차원의 벡터에 대하여 매립차원을 증가시키며 상관 차원 지수 C(r)을 구하고, 그 상관 차원 지수가 포화되는 지점의 매립차원 반경(r)을 구하는 단계; 및 각 매립차원을 증가시키며 구한 상관 차원 지수를 참조하여, 매립차원 반경(r)과 상관 차원 지수 C(r)에 대한 로그-로그 그래프를 작성하고, 그 로그-로그 그래프의 기울기를 프랙탈 차원 지수로 결정하는 단계;를 구비한다. |
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