Spectral reflectance measuring apparatus and spectral reflectance measuring method
PURPOSE: To provide a spectral reflectance measuring apparatus and method capable of measuring the reflectance of light with a specific wavelength, over a wide wavelength range including the ultraviolet range, and easily obtaining a reference value. CONSTITUTION: The spectral reflectance measuring a...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | PURPOSE: To provide a spectral reflectance measuring apparatus and method capable of measuring the reflectance of light with a specific wavelength, over a wide wavelength range including the ultraviolet range, and easily obtaining a reference value. CONSTITUTION: The spectral reflectance measuring apparatus comprises a light source part having a xenon lamp, an incoming fiber, a measuring head for applying light from the incoming fiber to a surface to be measured via a positive lens and a light diffusion panel and for receiving the light reflected from the surface, an outgoing fiber, and a spectroradiometer receiving the light from the outgoing fiber. The measuring head includes an incoming tube part and an ongoing tube part which is independent of the incoming tube part, with the incoming and ongoing tube parts being separably and integrally connected to each other while their respective optical axes intersect at or near the surface to be measured. Further, the incoming and ongoing tube parts can be connected to each other while their optical axes are coincident.
자외 영역을 포함하는 넓은 파장 영역에 있어서, 특정 파장의 광의 반사율을 측정할 수 있는 분광 반사율 측정 장치, 참조값을 용이하게 취득할 수 있는 분광 반사율 측정 장치 및 분광 반사율 측정 방법을 제공하는 것이다. 분광 반사율 측정 장치는 크세논 램프를 구비하는 광원부, 입사측 파이버, 입사측 파이버로부터의 광을 정렌즈 및 광 확산판을 통해서 피측정면에 조사하여 피측정면으로부터의 반사 광을 받는 측정 헤드, 출사측 파이버 및 출사측 파이버로부터의 광을 받는 분광 방사 조도계를 갖고 이루어진다. 측정 헤드는 광 입사 통부와, 이 광 입사 통부와 독립한 광 출사 통부를 갖고 이루어지고, 광 입사 통부와 광 출사 통부는 각각의 광축이 피측정면 또는 그 근방에서 교차하는 상태에서, 분리가능하게 일체로 연결되어 있다. 또한, 광 입사 통부와 광 출사 통부는 양자의 광축이 일치하는 상태에서 연결가능하게 되어 있다. |
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