PROBING APPARATUS FOR OSCILLOSCOPE

본 고안은 오실로스코프의 프로브(probe) 장치에 관한 것으로서, 특히 커패시터값의 오차를 줄이고, 커패시터를 교환해야 하는 번거로음을 해소하도록 한 오실로스코프의 프로브장치에 관한 것이다. 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 오실로스코프의 프로브장는 측정대상회로부와, 상기 측정대상회로부의 파형을 검출하는 검파부와, 상기 측정대상회로부의 접지신호를 검출하는 그라운드 리드부와, 상기 검파부와 상기 그라운드 리드부의 출력신호를 전송하는 케이블과, 상기 케이블을 통한 신호를 처리하고 디스플레이하는 스코프본체와, 상기 스코...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	YANG, DU-SIK
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 고안은 오실로스코프의 프로브(probe) 장치에 관한 것으로서, 특히 커패시터값의 오차를 줄이고, 커패시터를 교환해야 하는 번거로음을 해소하도록 한 오실로스코프의 프로브장치에 관한 것이다. 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 오실로스코프의 프로브장는 측정대상회로부와, 상기 측정대상회로부의 파형을 검출하는 검파부와, 상기 측정대상회로부의 접지신호를 검출하는 그라운드 리드부와, 상기 검파부와 상기 그라운드 리드부의 출력신호를 전송하는 케이블과, 상기 케이블을 통한 신호를 처리하고 디스플레이하는 스코프본체와, 상기 스코프본체와 측정대상회로부의 임피던스를 매칭 시키는 임피던스매칭부와, 상기 검파부와 그라운드 리드부의 전단에 각각 연결되어 상기 측정 대상회로부의 커패시터 오차를 보상하는 커패시터 조절부로 이루어짐을 특징으로 한다. 따라서, 본 고안에 따른 오실로스코프의 프로브장치는 커패시터의 용량 차이를 커패시터 조절부로 보상함으로써 교환에 따른 번거로움과 소모시간을 줄이는 효과가 있다.