METHOD FOR REMOVING REFERENCE LATTICE FROM MOIRE PATTERN

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LEE, SANG YUN, LIM, SSANG GEUN, OH, JEONG TAEK, KIM, SEUNG U
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHYSICS TESTING
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