OUTPUT BUFFER OF SEMICONDUCTOR IC

PURPOSE: An output buffer of semiconductor IC is provided to easily determine optimum resistance having minimum EMI(electromagnetic interference), optimum capacitance and optimum magnitude of an output driver because the magnitudes of the resistance, capacitance and the output driver can be varied by selectively cutting a portion of connecting lines in testing. CONSTITUTION: An output buffer of semiconductor IC comprises an output pad(DOUT), an output driver(300), a resistor unit(400) and a capacitor unit(600). The output driver receives output signals to drive the output pad and the driving performance of the driver is variable. The resistor unit is connected between the output pad and the output terminal of the output driver and the resistance of the unit is variable. The capacitor is connected to the output pat and its capacitance is variable. EMI를 줄일 수 있도록 최적화가 가능한 반도체 집적회로의 출력버퍼가 개시된다. 상기 출력버퍼는, 출력패드와, 출력신호를 받아 상기 출력패드를 구동하고 구동능력이 가변될 수 있는 출력 드라이버와, 상기 출력패드와 상기 출력 드라이버의 출력단 사이에 접속되고 저항의 크기가 가변될 수 있는 저항부, 및 상기 출력패드에 접속되고 커패시턴스의 크기가 가변될 수 있는 커패시터부를 구비하는 것을 특징으로한다. 상기 저항부는 복수개의 단위 저항들을 구비하고, 테스트시 상기 각 단위 저항 사이의 연결라인들을 선택적으로 절단하여 상기 저항의 크기가 가변될 수 있다. 상기 커패시터부는 복수개의 단위 커패시터들을 구비하고, 테스트시 전원전압, 상기 단위 커패시터, 상기 출력패드, 접지전압 간의 연결라인들을 선택적으로 절단하여 상기 커패시턴스의 크기가 가변될 수 있다. 상기 출력 드라이버는, 단위 출력 드라이버와, 게이트가 상기 단위 출력 드라이버의 게이트와 공통 접속되는 복수개의 정전기 방지 겸용 단위 출력 드라이버들을 구비하고, 테스트시 상기 각 정전기 방지 겸용 단위 출력 드라이버의 게이트에 접속되는 연결라인들을 선택적으로 절단하여 상기 구동능력이 가변될 수 있다.