Specimen fixing apparatus and electromagnetic shielding performance test facility including it
본 발명의 일 실시예는 베이스 패널; 상기 베이스 패널에 설치된 채, 상기 시편을 샌드위치 방식으로 파지하는 파지블록; 상기 베이스 패널에 설치된 채, 상기 파지블록을 베이스 패널에 맞댄 상태에서 상기 파지블록의 표면을 베이스 패널 쪽으로 1차 가압하여 베이스 패널에 압박 고정시키는 1차 고정부재; 및 상기 베이스 패널에 설치된 채, 상기 1차 고정부재에 의해 압박된 상태의 파지블록을 베이스 패널 쪽으로 2차 가압하여 베이스 패널에 마감 고정시키는 2차 고정부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다....
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; kor |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Zusammenfassung: | 본 발명의 일 실시예는 베이스 패널; 상기 베이스 패널에 설치된 채, 상기 시편을 샌드위치 방식으로 파지하는 파지블록; 상기 베이스 패널에 설치된 채, 상기 파지블록을 베이스 패널에 맞댄 상태에서 상기 파지블록의 표면을 베이스 패널 쪽으로 1차 가압하여 베이스 패널에 압박 고정시키는 1차 고정부재; 및 상기 베이스 패널에 설치된 채, 상기 1차 고정부재에 의해 압박된 상태의 파지블록을 베이스 패널 쪽으로 2차 가압하여 베이스 패널에 마감 고정시키는 2차 고정부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다. |
|---|