Multi-surface vision inspection apparatus

본 발명은 제품이 내장되는 원형의 반사통체 내부에서 발생하는 빛 반사를 최소화하여 제품의 표면을 다수의 카메라로 각각 구분하여 전체표면을 한꺼번에 검사할 수 있도록 하는 새로운 구조의 다중표면 비전 검사장치에 관한 것이다. 즉, 다중표면 비전 검사장치를 이용하여 컨베이어장치(1)에 의해 이송되는 대상물(2)이 상기 반사통체(10)의 하측에 위치되면, 상기 램프(20)가 on 되어 빛을 조사하고, 상기 카메라(30)가 작동되어 대상물(2)의 둘레면을 촬영하게 된다. 이때, 상기 램프(20)는 반사통체(10)의 내부에서 상측으로 빛을 조사함으로, 조사된 빛이 반사통체(10)의 내부에서 반사된 후 하측의 대상물(2)에 조사됨으로, 대상물(2)에 빛이 간접 조명되며, 이에 따라, 대상물(2)에서 반사된 카메라(30)에 빛이 카메라(30)에 직접 유입되어 백색노이즈가 발생하는 것을 방지할 수 있도록 하는 것을 특징으로 한다.