Automatic detection method for abusing labeling process of label data for artificial intelligence learning
The present invention relates to a method for automatically detecting abusing in a labeling process for label data for artificial intelligence learning, the method comprising: a step in which a processor obtains a first event log generated based on a first input signal when label data is generated;...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | The present invention relates to a method for automatically detecting abusing in a labeling process for label data for artificial intelligence learning, the method comprising: a step in which a processor obtains a first event log generated based on a first input signal when label data is generated; a step in which the processor identifies a statistical input pattern of an effective labeling process for the label data, based on the accumulatively stored first event log; and a step in which the processor determines abusing in a labeling process by comparing a second event log, which is generated based on a second input signal when the label data is generated, with the statistical input pattern. According to the present invention, the efficiency of a labeling process can be increased.
본 발명은 프로세서가, 라벨 데이터 생성시의 제1 입력 신호에 기초하여 생성된 제1 이벤트 로그를 획득하는 단계; 프로세서가, 누적 저장된 상기 제1 이벤트 로그에 기초하여, 상기 라벨 데이터에 대한 유효 라벨링 공정의 통계적 입력 패턴을 파악하는 단계; 및 프로세서가, 라벨 데이터 생성시의 제2 입력 신호에 기초하여 생성된 제2 이벤트 로그를 상기 통계적 입력 패턴과 비교하여, 라벨링 공정에 대한 어뷰징을 결정하는 단계;를 포함하는 인공지능 학습용 라벨 데이터의 라벨링 공정에 대한 어뷰징 자동 검출 방법에 관한 것이다. |
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