Precision turbidity measuring system and method using speckle pattern

The present invention relates to a system and method for measuring precise turbidity using a speckle pattern which enables measurement of high-precision turbidity and contamination by bacteria or microorganisms by enabling a speckle pattern to be used for turbidity measurement. The system for measuring precise turbidity using a speckle pattern comprises: a measuring container having a light input unit formed on one side so that laser light can be input, having a light scattering space formed in which the laser light can be multi-reflected or multi-scattered in multiple paths, and having a light output unit formed on the other side to measure microscopic turbidity or contamination by bacteria or microorganisms using a speckle pattern generated in the light scattering space; and an optical dilution member formed in at least a portion of the light scattering space, having a sample accommodating unit formed at one side which accommodates a sample to be measured, and including an optical dilution medium for optically diluting the speckle pattern of the sample to enable microscopic turbidity measurement of the sample. Accordingly, performance, precision and reliability of electronic products can be greatly improved. 본 발명은 탁도 측정에 스페클 패턴을 이용할 수 있게 하여 고정밀 탁도 및 박테리아나 미생물에 의한 오염을 측정을 가능하게 하는 스페클 패턴을 이용한 정밀 탁도 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 레이저 광이 입력될 수 있도록 일측에 입광부가 형성되고, 내부에 상기 레이저 광이 다중 경로로 다중 반사 또는 다중 산란될 수 있는 광산란 공간이 형성되며, 상기 광산란 공간에서 발생된 스페클 패턴을 이용하여 미시적 탁도 또는 박테리아나 미생물에 의한 오염을 측정할 수 있도록 타측에 출광부가 형성되는 측정 용기; 및 상기 광산란 공간의 적어도 일부분에 형성되고, 일측에 측정 대상이 되는 샘플을 수용하는 샘플 수용부가 형성되며, 상기 샘플의 미시적 탁도 측정을 가능하게 할 수 있도록 상기 샘플의 스페클 패턴을 광학적으로 희석시키는 역할을 하는 광학적 희석 매질로 이루어지는 광학적 희석 부재;를 포함할 수 있다.