DETECTION METHOD OF OPTIMAL INSPECTION AREA FOR SMEAR SLIDE

According to an embodiment of the present invention, a method for detecting an optimal inspection area from a smeared slide can relatively accurately detect an optimal inspection area for observation from a slide smeared in an atypical pattern, find smear contours or smear boundaries through line scanning, and determine the optimal inspection area inside the found smear contours, thereby increasing detection efficiency. To this end, particularly, according to an embodiment of the present invention, a method for detecting an optimal inspection area from a smeared slide comprises: a first scanning step (S10) in which a low-magnification camera line-scans a first area of a slide in a direction perpendicular to a smearing direction; a second scanning step (S20) in which the low-magnification camera line-scans a second area parallel to the line-scanned first area and spaced apart from the first area by a first distance; a distance calculation step (S30) of calculating a second distance based on the correlation between the first area and the second area; a third scanning step (S40) of line-scanning a third area parallel to the second area and spaced apart from the second area by a second distance; and an inspection area detection step (S50) of detecting an optimal inspection area from the slide based on the first area, the second area, and the third area. 본 발명의 일 실시예에 의하면, 비정형 패턴으로 도말되는 슬라이드에서 관찰을 위한 최적 검사 영역을 비교적 정확하게 검출하고, 줄 스캔을 통해 도말 윤곽 또는 도말 경계를 찾아내며, 찾아낸 도말 윤곽 내부에서 최적 검사 영역을 결정함으로써 검출 효율을 높일 수 있다. 이를 위해 특히 본 발명의 일 실시예는, 저배율 카메라가 슬라이드를 도말 방향에 수직인 방향으로 제1 영역을 줄 스캔하는 제1 스캔단계(S10); 저배율 카메라가 줄 스캔된 제1 영역과 평행하고 제1 영역으로부터 제1 이격 거리만큼 이격된 제2 영역을 줄 스캔하는 제2 스캔단계(S20); 제1 영역과 제2 영역의 상관 관계에 기초하여 제2 이격 거리를 산출하는 이격 거리 산출단계(S30); 제2 영역과 평행하고 제2 영역으로부터 제2 이격 거리만큼 이격된 제3 영역을 줄 스캔하는 제3 스캔단계(S40); 및 제1 영역, 제2 영역 및 제3 영역에 기반하여 슬라이드 상의 최적 검사 영역을 검출하는 검사 영역 검출단계(S50)를 포함하는 도말된 슬라이드의 최적 검사 영역 검출 방법을 포함한다.