MANUFACTURING METHOD OF PROBECARD AND PROBECARD USING THE SAME

본 발명은 프로브카드의 제조방법 및 이를 이용하여 제조되는 프로브카드에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 프로브카드를 제조함에 있어 사용되는 탐침을 백금 및 니켈을 주 베이스로 하는 합금으로 구성하여 기존의 텅스텐 재질의 탐침에 비하여 우수한 전기적 특성 및 생산성 향상, 그리고 수명 향상을 기대할 수 있으며, 별도의 납땜용 플레이팅층을 추가로 형성할 필요 없으며 응력완화 특성이 더 우수하여 얼라이먼트를 자주 실시해야 하는 문제점을 개선할 수 있는 백금베이스의 탐침이 구비되는 프로브카드의 제조방법 및 이를 이용하여 제조되는 프로브카드...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	LEE, JUNG MOON
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명은 프로브카드의 제조방법 및 이를 이용하여 제조되는 프로브카드에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 프로브카드를 제조함에 있어 사용되는 탐침을 백금 및 니켈을 주 베이스로 하는 합금으로 구성하여 기존의 텅스텐 재질의 탐침에 비하여 우수한 전기적 특성 및 생산성 향상, 그리고 수명 향상을 기대할 수 있으며, 별도의 납땜용 플레이팅층을 추가로 형성할 필요 없으며 응력완화 특성이 더 우수하여 얼라이먼트를 자주 실시해야 하는 문제점을 개선할 수 있는 백금베이스의 탐침이 구비되는 프로브카드의 제조방법 및 이를 이용하여 제조되는 프로브카드에 관한 것이다.