System For Inspecting Of Non-Lambertian Surface
본 발명은 측면모듈의 내측면에 설치되어 측면모듈과 수직한 방향으로 빛을 출력하는 조명모듈과, 측면모듈의 상측면에 설치되고 상단면의 중앙에 촬영홀이 형성된 디퓨저모듈을 포함한 표면검사부 촬영홀의 위에 위치하며 촬영홀을 관통해 바닥면에 위치한 검사체를 촬영하며 영상이미지를 생성하는 카메라부; 및 복수 개의 조명모듈과 카메라부를 작동시켜 카메라부에서 촬영된 영상이미지를 수신하고, 수신된 영상이미지를 복수 개의 블록으로 나누어 블록에서 반사도값을 추출하여 기 설정된 기준반사도값과 대비한 후, 블록의 반사도값이 기준반사도값 미만일 경우 블록...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | 본 발명은 측면모듈의 내측면에 설치되어 측면모듈과 수직한 방향으로 빛을 출력하는 조명모듈과, 측면모듈의 상측면에 설치되고 상단면의 중앙에 촬영홀이 형성된 디퓨저모듈을 포함한 표면검사부 촬영홀의 위에 위치하며 촬영홀을 관통해 바닥면에 위치한 검사체를 촬영하며 영상이미지를 생성하는 카메라부; 및 복수 개의 조명모듈과 카메라부를 작동시켜 카메라부에서 촬영된 영상이미지를 수신하고, 수신된 영상이미지를 복수 개의 블록으로 나누어 블록에서 반사도값을 추출하여 기 설정된 기준반사도값과 대비한 후, 블록의 반사도값이 기준반사도값 미만일 경우 블록을 남기고, 블록의 반사도값이 기준반사도값 이상일 경우, 블록을 삭제한 후 복수 개의 영상이미지를 합쳐 하나의 알비도이미지를 생성하는 제어기부를 포함하는 논-램버시안 표면 검사 시스템에 관한 것이다. 이와 같은 본 발명은 용접면과 금속면의 경계선을 구분하고 용접면에 형성된 크랙(Crack)을 정확하게 표현된 이미지를 생성할 수 있다. |
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