TEST SOCKET

The present invention relates to a semiconductor chip test socket. More specifically, the semiconductor chip test socket comprises: a base on which a semiconductor chip can be mounted; a cover coupled to the upper portion of the base so as to be vertically displaceable; a latch member opened and closed in accordance with vertical displacement of the cover; a lead guide coupled to a lower portion of the base and supporting a contact lead; and a connection shaft connecting the base with the latch member. The lead guide includes a protruding anchor having at least a portion protruding upwards. The protruding anchor is a semiconductor in which at least one portion is located outside of at least one end of both of the axial ends of the connection shaft and covers at least a portion of the connection shaft from the outside in the axial direction so that the connection shaft is not out of position. 본 발명은 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 반도체 칩이 탑재될 수 있는 베이스; 상기 베이스의 상부에 상하 변위 가능하게 결합된 커버; 상기 커버의 상하 변위에 따라서 개폐되는 래치 부재; 상기 베이스의 하부에 결합되며 컨택트 리드를 지지하는 리드 가이드; 및 상기 베이스와 상기 래치 부재를 연결하는 연결 샤프트; 를 포함하며, 상기 리드 가이드는, 적어도 일 부분이 상방향으로 돌출된 돌출 앵커를 포함하며, 상기 돌출 앵커는 적어도 일 부분이 상기 연결 샤프트의 축 방향 양 단부 중 적어도 일 단부의 외측에 위치하며 상기 연결 샤프트의 적어도 일 부분을 축 방향에서 외측에서 커버하여 상기 연결 샤프트가 위치 이탈하지 않도록 하는 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것이다.