IMPLANT INSPECTION APPARATUS
An implant inspection device comprises: a buffer part allowing a plurality of implants to stand by; a first transfer part for transferring the implant to a first inspection region and a second inspection region; a first camera part photographing an upper surface of the implant in a state that the fi...
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| Hauptverfasser: | , , , |
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; kor |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
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| Zusammenfassung: | An implant inspection device comprises: a buffer part allowing a plurality of implants to stand by; a first transfer part for transferring the implant to a first inspection region and a second inspection region; a first camera part photographing an upper surface of the implant in a state that the first transfer part grips the implant in the first inspection region; and a side surface inspection part for inspecting a side surface of the implant in the second inspection region. The side surface inspection part comprises: a receiving part for receiving the implant from the first transfer part and rotating the received implant; and a second camera part photographing at least a part of the side surface of the implant. Therefore, an objective of the present invention is to provide the implant inspection device for automatically inspecting the implant.
임플란트(Implant) 검사 장치는 복수의 임플란트를 대기시키는 버퍼부, 임플란트를 제 1 검사 영역 및 제 2 검사 영역으로 이송하는 제 1 이송부, 상기 제 1 이송부가 상기 제 1 검사 영역에서 상기 임플란트를 파지한 상태에서 상기 임플란트의 상면을 촬영하는 제 1 카메라부 및 상기 제 2 검사 영역에서 상기 임플란트의 측면을 검사하기 위한 측면 검사부를 포함한다. 상기 측면 검사부는 상기 제 1 이송부로부터 상기 임플란트를 수취하고 상기 수취한 임플란트를 회전시키는 수취부 및 상기 임플란트의 측면의 적어도 일부분을 촬영하는 제 2 카메라부를 포함한다. |
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