APPARATUS FOR TESTING MAIN-BOARD

The present invention provides an apparatus for testing mainboard characteristics. The apparatus for testing mainboard characteristics comprises: a body unit; a test area unit provided in the body unit and having a plurality of mainboards independently arranged therein; a test signal input unit inputting a test signal to each of the plurality of mainboards; a storage unit simultaneously receiving test result signals output from each of the plurality of mainboards to which the test signals are input; and a determination unit receiving each of the test result signals from the storage unit, determining whether or not the test result signal is included in a predetermined reference range, determining a good product when the test result signal is included in the predetermined reference range, determining a defective product when the test result signal is not included in the predetermined reference range, and storing the determination result in the storage unit. Thus, electrical characteristics can be tested simultaneously for a plurality of mainboards. 본 발명은 메인보드 특성 시험장치를 제공한다. 상기 메인보드 특성 시험장치는, 본체부와; 상기 본체부에 마련되며, 다수의 메인보드 각각이 독립되어 위치되는 검사 영역부와; 상기 다수의 메인보드 각각으로 검사 신호를 입력하는 검사 신호 입력부와; 상기 검사 신호가 입력된 상기 다수의 메인보드 각각으로부터 출력되는 검사 결과 신호들 각각을 동시에 전송 받는 저장부; 및 상기 저장부로부터 상기 검사 결과 신호들 각각을 전송 받아, 기설정되는 기준 범위에 포함되는 지의 여부를 판단하여, 기설정되는 기준 범위에 포함되는 경우, 양품으로 판단하고, 기설정되는 기준 범위에 포함되지 않으면, 불량으로 판단하고, 판단에 따르는 결과를 상기 저장부에 저장하도록 하는 판단부를 포함한다.