System for spectrum measuring of small area using microscope

The present invention relates to a spectrum measurement system for a small area using a microscope. According to the present invention, the spectrum measurement system for a small area using a microscope comprises: a light source unit to emit light to a holographic sample; a microscope lens to allow the emitted light to penetrate or be reflected from the holographic sample, and to form an image at positions different from each other on a Fourier plane in accordance with an advancing angle of the penetrated or reflected light; an imaging lens to form the image formed on the Fourier plane by the microscope lens to provide spectral or diffraction angle information of the holographic sample; and a spectrum measurer to measure a spectrum in accordance with an imaging angle on a hologram formed through the imaging lens. Accordingly, the microscope lens and the spectrum measurer are combined, thereby being able to evaluate and check color quality for a small area of the holographic sample in real-time, to measure a color representation rate of the holographic sample in the small area of a pixel unit, and to measure the color representation rate of the holographic sample in accordance with the angle and penetration/reflection. 본 발명은 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템에 관한 것으로서, 를 포함한다. 따라서, 본 발명은 홀로그래픽 시료에 광원을 조사하는 광원부; 상기 조사된 광원이 홀로그래픽 시료를 투과 또는 반사하고, 상기 투과 또는 반사된 광원의 진행 각도에 따라 푸리에 평면의 서로 다른 위치에서 결상되도록 하는 현미경 렌즈; 상기 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 정보 또는 회절 각도 정보를 제공하기 위해 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면에서 결상된 상을 이미징하는 이미징 렌즈; 및 상기 이미징 렌즈를 통해 이미징되는 홀로그램 상의 결상 각도에 따라 스펙트럼을 측정하는 스펙트럼 측정기를 포함한다. 따라서, 본 발명은 현미경 렌즈와 스펙트럼 측정기를 결합하여 홀로그래픽 시료의 국소 면적에 대한 색품질을 실시간 평가 및 확인할 수 있고, 홀로그래픽 시료의 색 재현율을 픽셀 단위의 국소 면적에서 측정할 수 있으며, 게다가 홀로그래픽 시료의 색재현율을 각도 또는 투과/반사에 따라 측정할 수 있다.