Electronic parts test center with precise side contact function
Provided is an electronic component test socket with a precise side contact function. According to the present invention, the socket comprises: a body unit having a mounting plate wherein an electronic component is put on a center, having an entry groove cut towards the mounting plate formed on both...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | Provided is an electronic component test socket with a precise side contact function. According to the present invention, the socket comprises: a body unit having a mounting plate wherein an electronic component is put on a center, having an entry groove cut towards the mounting plate formed on both sides, having a guide groove formed in front and rear sides adjacent to the entry groove, and having a guide pin formed inside the guide groove; a guide unit including a guide block connected to the guide pin to be able to linearly slide and an operation guide groove symmetrically having an inclination angle in an upper part of a pair of guide blocks placed in a front side; a driving unit installed in an upper part of the body unit to be slid forward and backward by external power, and having a guide roller formed in a lower part of both sides; a floating unit coupled between the guide blocks to move along the entry groove and having a conductive pin formed on one surface; and a selective fixation unit coupled between the driving unit and the body unit to be able to link with the driving unit, and selectively and closely adhering and fixating the electronic component along a moving direction. The guide roller is inserted into and connected to the operation guide groove to provide the guide unit with power of a direction different from each other in accordance with an operation direction of the driving unit; thereby realizing a stable contact movement and preventing fine movement of the electronic component during a contact process, thus being able to precisely realize the contract operation.
정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓이 제공된다. 제공된 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓은 중앙에 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되고, 양측에 상기 안착대 측으로 절개된 진입홈이 마련되며, 상기 진입홈의 인접한 전, 후방에 가이드홈이 형성되고, 상기 가이드홈의 내측에 가이드핀이 구비된 몸체유닛; 상기 가이드핀에 가이드블록이 직선방향 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 전방에 위치한 한 쌍의 가이드블록 상부에 서로 대칭되는 경사각을 갖는 동작유도홈이 마련된 가이드유닛; 상기 몸체유닛의 상부에 구비되어 외부 동력에 의해 전, 후방향 슬라이딩 이동하며, 양측 하부에 가이드롤러가 구비된 구동유닛; 상기 가이드블록과 가이드블록 사이에 체결되어 진입홈을 따라 이동하며, 일면에 도전성 핀이 구비된 플로팅유닛; 상기 구동유닛과 연동할 수 있도록 상기 구동유닛과 몸체유닛 사이에 체결되며, 이동 방향에 따라 선택적으로 상기 전자부품을 밀착, 고정하는 선택형 고정유닛을 포함하며, 상기 가이드롤러는 상기 동작유도홈에 삽입, 연결되어 상기 구동유닛의 동작방향에 따라 상기 가이드유닛에 서로 다른 방향의 동력을 제공하여 안정된 컨택 동작을 구현 및 컨택 과정에서 전자부품의 미동을 차단하여 컨택동작을 더욱 정밀하게 구현할 수 있다. |
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