APPARATUS FOR ANALYZING COMPONENT USING TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVES
The present invention relates to a composition analyzing apparatus using terahertz electromagnetic waves. The apparatus includes: a light source which generates a laser beam; a light separating unit which separates the laser beam into a first laser beam and a second laser beam; an generating unit wh...
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Hauptverfasser: | , , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | The present invention relates to a composition analyzing apparatus using terahertz electromagnetic waves. The apparatus includes: a light source which generates a laser beam; a light separating unit which separates the laser beam into a first laser beam and a second laser beam; an generating unit which is excited by the first laser beam and emits the terahertz electromagnetic waves; a first optical fiber which delivers the first laser beam to the generating unit; a first reflecting unit which reflects the terahertz electromagnetic waves emitted by the generating unit onto a test subject; a second reflecting unit which reflects the terahertz electromagnetic waves transmitted from the test subject; a detecting unit which generates an electrical signal based on the terahertz electromagnetic waves reflected by the second reflecting unit and the second laser beam; a second optical fiber which delivers the second laser beam to the detecting unit; a first aligning unit which includes a third laser beam transferring unit for generating and transferring a third laser beam and a third laser beam detecting unit for receiving the third laser beam; and a second aligning unit which retro-reflects the third laser beam, wherein each of the first and second reflecting units is equipped with at least one pair of penetrating holes which advance the third laser beam. According to the present invention, it is possible to connect, by using the optical fibers, the light separating unit with the generating unit and the light separating unit with the detecting unit to align them more exactly in an optical aspect, check conveniently whether the multiple reflecting units are aligned with each other; execute a composition analysis by selectively using a specific band of the terahertz electromagnetic waves and provide the composition analyzing apparatus using the terahertz electromagnetic waves which are capable of detecting the signal rapidly.
본 발명은 레이저 빔을 생성하는 광원; 상기 레이저 빔을 제1 레이저 빔 및 제2 레이저 빔으로 분리하는 광 분리부; 상기 제1 레이저 빔에 의해서 여기되며 테라헤르츠 전자기파를 방사하는 발생부; 상기 제1 레이저 빔을 상기 발생부로 전달하는 제1 광 파이버; 상기 발생부가 방사한 상기 테라헤르츠 전자기파를 피검사체로 반사시키는 제1 반사부; 상기 피검사체를 투과한 상기 테라헤르츠 전자기파를 반사시키는 제2 반사부; 상기 제2 반사부에 의해서 반사된 상기 테라헤르츠 전자기파 및 상기 제2 레이저 빔을 기초로 전기적 신호를 생성하는 검출부; 상기 제2 레이저 빔을 상기 검출부로 전달하는 제2 광 파이버; 제3 레이저 빔을 생성하여 전송하는 제3 레이저 빔 전송부 및 상기 제3 레이저 빔을 수신하는 제3 레이저 빔 검출부를 포함하는 제1 정렬부; 및 상기 제3 레이저 빔을 역반사하는 제2 정렬부;를 포함하고, 상기 제1 반사부 및 상기 제2 반사부 각각은 상기 제3 레이저 빔을 진행시키는 적어도 한 쌍의 관통공을 구비하는 것인 테라헤르츠 전자기파를 이용한 성분 분석 장치를 |
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