INSPECTION APPARATUS FOR DEFECTS IN THE PANEL OF CRT

간단한 조절로서 두 광원의 광 조사각도를 동시에 조절할 수 있도록 개량된 음극선관 패널 검사장치에 대해 개시한다. 두 광원의 조사각도를 동시에 조절할 수 있는 조절수단은 베이스(200)에 두 광원(100)(120)이 소정간격으로 배치되고, 그 사이에 서포트부재(300)가 고정설치된다. 서포트부재에는 제1,2미러부재(450)(460)가 부착된 제1,2회전부재(410)(420)가 소정의 회전수단에 의해서 동시에 회전가능하게 설치되고, 또한 서포트부재(300)에는 제1,2미러부재로부터 반사되는 광을 패널(111)측으로 조사하는 제3,4미...

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1. Verfasser: CHO, YONGOL
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:간단한 조절로서 두 광원의 광 조사각도를 동시에 조절할 수 있도록 개량된 음극선관 패널 검사장치에 대해 개시한다. 두 광원의 조사각도를 동시에 조절할 수 있는 조절수단은 베이스(200)에 두 광원(100)(120)이 소정간격으로 배치되고, 그 사이에 서포트부재(300)가 고정설치된다. 서포트부재에는 제1,2미러부재(450)(460)가 부착된 제1,2회전부재(410)(420)가 소정의 회전수단에 의해서 동시에 회전가능하게 설치되고, 또한 서포트부재(300)에는 제1,2미러부재로부터 반사되는 광을 패널(111)측으로 조사하는 제3,4미러부재(430)(440)가 고정설치된다. 제1,2회전부재의 위치고정은 조절레버(360)에 의해서 서포트부재의 소정위치에 고정된다. 이러한 본 발명은 한번의 조작으로 제1,2회전부재를 동시에 조절할 수 있게 한다.