MULTILAYER THIN FILM STRUCTURE OF METAL INTERCONNECTION

본 발명은 표면 반사율을 낮추어 패턴 형성 불량을 감소시킬 수 있고 열처리 중의 응력에 기인한 표면 돌출현상을 완하시킬 수 있으며 에치 공정시의 부식 문제점을 해결할 수 있는 금속배선의 다층 박막 구조를 제공하기 위한것으로 이를 위해 도전막을 알루미늄막과 알루미늄 산화막의 다층 구조로 형성한다....

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1. Verfasser: KWAK, BYUNG-HO
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Zusammenfassung:본 발명은 표면 반사율을 낮추어 패턴 형성 불량을 감소시킬 수 있고 열처리 중의 응력에 기인한 표면 돌출현상을 완하시킬 수 있으며 에치 공정시의 부식 문제점을 해결할 수 있는 금속배선의 다층 박막 구조를 제공하기 위한것으로 이를 위해 도전막을 알루미늄막과 알루미늄 산화막의 다층 구조로 형성한다.