TEST CIRCUIT OF OP-AMP

본 고안은 오피-앰프 소자 테스트 체크회로에 관한 것으로서, 반도체 제조장치중 이온주입장치내의 콘트롤 회로내에서 전용으로 쓰이는 오피-앰프 소자의 이상유무를 체크하기 위한 회로에 관한 것이다.

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	YEU, TAE-HYUN, PARK, INNUN, SONN, KI-RAK
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	본 고안은 오피-앰프 소자 테스트 체크회로에 관한 것으로서, 반도체 제조장치중 이온주입장치내의 콘트롤 회로내에서 전용으로 쓰이는 오피-앰프 소자의 이상유무를 체크하기 위한 회로에 관한 것이다.