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PURPOSE:To enable inspection of inner circuit under on-line condition, by applying short time operation of sampled value.

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Hauptverfasser: KOBAYASHI TAKAYUKI, MITANI IZUMI, IWASAKI MINORU
Format: Patent
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:PURPOSE:To enable inspection of inner circuit under on-line condition, by applying short time operation of sampled value.