METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT AND SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT
To provide a method for manufacturing a semiconductor laser element that can shorten the time required for element division and improve element division accuracy.SOLUTION: A method for manufacturing a semiconductor laser element 1A of an embodiment includes a first step of preparing a wafer 100 and...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | To provide a method for manufacturing a semiconductor laser element that can shorten the time required for element division and improve element division accuracy.SOLUTION: A method for manufacturing a semiconductor laser element 1A of an embodiment includes a first step of preparing a wafer 100 and a second step of forming an element division groove 20 by etching along an element division line L2. The element division groove 20 includes a first portion 21 and a second portion 22. A portion composed of at least the first portion 21 in an inner surface 20a of the element division groove 20 slants in a Z-axis direction so that a width in a Y-axis direction of the element division groove 20 becomes small as it heads to the second principal surface 100b side from the first principal 100a side. An inclination angle θ1 of the inner surface 20a of the first portion 21 with respect to the Z-axis direction is greater than an inclination angle of the inner surface 20a of the second portion 22 with respect to the Z-axis direction.SELECTED DRAWING: Figure 7
【課題】素子分割にかかる時間を短縮できると共に素子分割の精度を向上させることができる。【解決手段】一実施形態の半導体レーザ素子1Aの製造方法は、ウェハ100を用意する第1工程と、素子分割ラインL2に沿って、エッチングによって素子分割溝20を形成する第2工程と、を含む。素子分割溝20は、第1部分21と、第2部分22と、を有する。素子分割溝20の内面20aのうち少なくとも第1部分21によって構成された部分は、第1主面100a側から第2主面100b側に向かうにつれて素子分割溝20のY軸方向の幅が小さくなるようにZ軸方向に対して傾斜している。Z軸方向に対する第1部分21の内面20aの傾斜角度θ1は、Z軸方向に対する第2部分22の内面20aの傾斜角度よりも大きくされている。【選択図】図7 |
---|