MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE

To effectively mitigate warpage generated in an SiC substrate.SOLUTION: A manufacturing method of a semiconductor device comprises: a first ion implantation process that performs ion implantation of a dopant into a first surface of a SiC substrate; and a second ion implantation process that performs...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: OTSUBO HIROAKI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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