USING CLEANING PROTOCOLS TO MONITOR DEFECTS ASSOCIATED WITH LIGHT DETECTION AND RANGING (LIDAR) DEVICES

To monitor defects associated with devices.SOLUTION: Example embodiments relate to using cleaning protocols to monitor defects associated with light detection and ranging (lidar) devices. An example embodiment includes a method. The method includes applying, using a cleaning device, a cleaning protocol to one or more optical components of a light detection and ranging (lidar) device. The method also includes emitting one or more light signals from a light emitter of the lidar device. Additionally, the method includes detecting, by a light detector of the lidar device, reflection of the one or more light signals. Further, the method includes determining, by a controller of the lidar device based on the detected reflection of the one or more light signals, that one or more defects are present within the one or more optical components or within the cleaning device.SELECTED DRAWING: Figure 9 【課題】装置に関連する欠陥を監視する。【解決手段】例示的な実施形態は、クリーニングプロトコルを使用して、光検出および測距（ライダー）装置に関連する欠陥を監視することに関する。例示的な実施形態は、方法を含む。方法は、クリーニング装置を使用して、光検出および測距（ライダー）装置の一つまたは複数の光学構成要素にクリーニングプロトコルを適用することを含む。方法はまた、ライダー装置の発光体から、一つまたは複数の光信号を放射することを含む。さらに、方法は、ライダー装置の光検出器によって、一つまたは複数の光信号の反射を検出することを含む。さらに、方法は、一つまたは複数の光信号の検出された反射に基づき、ライダー装置のコントローラーによって、一つまたは複数の欠陥が一つまたは複数の光学構成要素内またはクリーニング装置内に存在すると決定することを含む。【選択図】図９