PHOTODIODE STRUCTURE
To provide a photodiode structure capable of reducing radio frequency interference.SOLUTION: A semiconductor structure 20 is located on a first electrode 10. A first anti-reflective layer 30 is located on the semiconductor structure 20. A second anti-reflective layer 40 is located on the first anti-...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | To provide a photodiode structure capable of reducing radio frequency interference.SOLUTION: A semiconductor structure 20 is located on a first electrode 10. A first anti-reflective layer 30 is located on the semiconductor structure 20. A second anti-reflective layer 40 is located on the first anti-reflective layer 30. A second electrode 50 is located on the second anti-reflective layer 40 and electrically connected to the semiconductor structure 20 through the first anti-reflective layer 30 and the second anti-reflective layer 40. A blocking structure 60 is disposed between the first anti-reflective layer 30 and the second electrode 50 to prevent the first anti-reflective layer 30 from directly contacting the second electrode 50.SELECTED DRAWING: Figure 3
【課題】無線周波干渉を低減できるフォトダイオード構造を提供する。【解決手段】半導体構造20は第1電極10上に位置する。第1反射防止層30は、半導体構造20上に位置する。第2反射防止層40は、第1反射防止層30上に位置する。第2電極50は、第2反射防止層40上に位置し、第1反射防止層30と第2反射防止層40を貫通して、半導体構造20に電気的に接続される。ブロッキング構造60は、第1反射防止層30と第2電極50との間に設置され、第1反射防止層30が第2電極50に直接接触するのを防止する。【選択図】図3 |
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