HIGH ACCELERATION LIFE TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING HIGH ACCELERATION LIFE

To run a test with high accuracy regardless of a type or performance of a sample.SOLUTION: A high acceleration life test device 10 having a test space 1S and a vapor generation space 2S includes: a heater 1A for heating the test space 1S; a heater 2A for heating the vapor generation space 2S; a temp...

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Hauptverfasser: YUMOTO SHINICHI, SATO AKIRA, UCHIDA KATSUHIRO
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To run a test with high accuracy regardless of a type or performance of a sample.SOLUTION: A high acceleration life test device 10 having a test space 1S and a vapor generation space 2S includes: a heater 1A for heating the test space 1S; a heater 2A for heating the vapor generation space 2S; a temperature sensor 1B for measuring a temperature T1 of the test space 1S; a temperature sensor 2B for measuring a temperature T2 of the vapor generation space 2S; an item temperature sensor 3 directly attached to a sample S arranged in the test space 1S, the item temperature sensor measuring a temperature T3 of the sample S; and a controller 5 for executing on-off control of the heaters 1A and 1B. The controller 5 has a normal mode for executing on-off control on the basis of the temperatures T1 and T2 and an item temperature mode of executing on-off control on the basis of the temperatures T3 and T2 as test modes. The controller 5 executes on-off control according to a test mode set with a test condition of the sample S.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】試料の種類や性質等にかかわらず、高い精度の試験を実施する。【解決手段】試験空間1Sと蒸気発生空間2Sとを備えた高加速寿命試験装置10は、試験空間1Sを加熱するヒータ1Aと、蒸気発生空間2Sを加熱するヒータ2Aと、試験空間1Sの温度T1を測定する温度センサ1Bと、蒸気発生空間2Sの温度T2を測定する温度センサ2Bと、試験空間1Sに配置される試料Sに直接取り付けられて試料Sの温度T3を測定する品温センサ3と、ヒータ1A,1Bの各オンオフ制御を実施する制御装置5とを備える。制御装置5には、試験モードとして、温度T1,T2に基づきオンオフ制御を実施する通常モードと、温度T3,T2に基づきオンオフ制御を実施する品温モードとが設けられており、制御装置5は、試料Sの試験条件とともに設定された試験モードに応じてオンオフ制御を実施する。【選択図】図1