MEASUREMENT CHIP, MEASURING DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD

To provide an optical-waveguide-type measurement chip, a measuring device, and a measurement method that further increases reproducibility of measurement and reliability of measurement and further reduces costs of a manufacturing process.SOLUTION: A measurement chip 1 includes a propagation layer 2 propagating light in a propagation direction Y, an introduction unit 3 introducing light to the propagation layer 2, a derivation unit 4 deriving light from the propagation layer 2, and a coating layer 5 in which coating is formed on the surface of the propagation layer 2, and length in the propagation direction Y in a formation area of coating increases or decreases along a vertical direction X relative to the propagation direction Y, and a ligand 6 reacting with an analyte in a measurement object can be decorated on a surface 2A of the propagation layer 2 of an exposed area that is exposed at least from the coating layer 5.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】測定の再現性や測定の信頼性をさらに向上させ、作製プロセスをさらに低コスト化した光導波路型の測定用チップ、測定装置、および測定方法を提供する。【解決手段】測定用チップ１は、光が伝搬方向Ｙに伝搬する伝搬層２と、伝搬層２に光を導入する導入部３と、伝搬層２から光を導出する導出部４と、伝搬層２の表面上にコーティングが形成され、コーティングの形成領域における伝搬方向Ｙの長さが、伝搬方向Ｙに対する垂直方向Ｘに沿って増加または減少するコーティング層５と、を備え、少なくともコーティング層５から露出する露出領域の伝搬層２の表面２Ａに、測定対象物中のアナライトに反応するリガンド６を修飾可能である。【選択図】図１