TEST SYSTEM

To provide a test system for testing a device having a plurality of electrical contacts.SOLUTION: A test system is provided, comprising: a device table operable to hold at least one device under test; a probe comprising at least one probe end for contacting electrical contacts of the device under test; a movement mechanism operable to move one or both of the device table and the probe so as to bring the at least one probe end into contact with at least one electrical contact of the device under test; and a profile determination system configured to determine a profile of the electrical contacts of the device under test.SELECTED DRAWING: Figure 6 【課題】 複数の電気接点を有するデバイスを試験するための試験システムを提供する。【解決手段】 試験システムは、少なくとも１つの被試験デバイスを保持するように動作可能なデバイステーブルと、被試験デバイスの電気接点に接触するための少なくとも１つのプローブ端部を含むプローブと、デバイステーブルとプローブの一方又は両方を動かし、少なくとも１つのプローブ端部を被試験デバイスの少なくとも１つの電気接点に接触させるように動作可能な移動機構と、被試験デバイスの電気接点のプロファイルを判定するように構成されたプロファイル判定システムとを備える。【選択図】 図６