ANALYSIS DEVICE AND ANALYSIS METHOD OF CIRCUIT BOARD

To appropriately specify an impedance singular point in a circuit board.SOLUTION: In an arithmetic part, multiple observation points are disposed in a mesh on a wiring area of a circuit board; frequency characteristics of impedance from a reference point of the circuit board to the respective observation points are calculated; a process for calculating impedance at a reference frequency is executed to the respective observation points by using the frequency characteristics; and an extraction process for extracting impedance singular points in the circuit board is performed by using the impedance of the respective observation points. The arithmetic part calculates the average of the impedance in a peripheral observation point group disposed around determination object points with the respective observation points as the determination object points in the extraction process, and extracts a determination object point as an impedance singular point when impedance of the determination object point is separated from the average of the impedance of the peripheral observation point group.SELECTED DRAWING: Figure 6 【課題】回路基板におけるインピーダンス特異点を適切に特定する。【解決手段】演算部は、回路基板の配置領域上に複数の観測点をメッシュ状に配置し、回路基板の基準点から各観測点までのインピーダンスの周波数特性を算出し、周波数特性を用いて基準周波数におけるインピーダンスを算出する処理を各観測点に対して実行し、各観測点のインピーダンスを用いて回路基板におけるインピーダンス特異点を抽出する抽出処理を行なう。演算部は、抽出処理において、各観測点を判定対象点として、判定対象点の周辺に配置される周辺観測点群のインピーダンスの平均を算出し、周辺観測点群のインピーダンスの平均に対して判定対象点のインピーダンスが乖離している場合に、当該判定対象点をインピーダンス特異点として抽出する。【選択図】図６