SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
To provide a semiconductor device whose electrical characteristics can be improved.SOLUTION: A semiconductor device includes a wiring layer, a first laminate stacked on the wiring layer, a second laminate stacked on the first laminate, and a first resin body covering at least a part of the periphery...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To provide a semiconductor device whose electrical characteristics can be improved.SOLUTION: A semiconductor device includes a wiring layer, a first laminate stacked on the wiring layer, a second laminate stacked on the first laminate, and a first resin body covering at least a part of the periphery of the first laminate. When the direction in which the first laminate and the second laminate are stacked is taken as a stacking direction, the first laminate has a first pad connected to the wiring layer, a first device layer electrically connected to the first pad, and a first electrode electrically connected to the first device layer. The second laminate has a second pad electrically connected to the first electrode, and a second device layer electrically connected to the second pad. In the stacking direction, the first resin body is located closer to the wiring layer side than the interface between the first laminate and the second laminate.SELECTED DRAWING: Figure 2
【課題】電気的特性の向上を図ることができる半導体装置を提供することである。【解決手段】実施形態の半導体装置は、配線層と、前記配線層に積層された第1積層体と、前記第1積層体に積層された第2積層体と、前記第1積層体の周囲の少なくとも一部を覆う第1樹脂体と、を持つ。前記第1積層体と、前記第2積層体と、が積層された方向を積層方向としたとき、前記第1積層体は、前記配線層に接続された第1パッドと、前記第1パッドと電気的に接続された第1デバイス層と、前記第1デバイス層と電気的に接続した第1電極と、を持つ。前記第2積層体は、前記第1電極に電気的に接続された第2パッドと、前記第2パッドと電気的に接続された第2デバイス層と、を持つ。前記積層方向において、前記第1樹脂体が、前記第1積層体と前記第2積層体との界面よりも前記配線層側にある。【選択図】図2 |
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