ELECTRICAL CONDUCTIVE PARTICLE EVALUATION DEVICE AND ELECTRICAL CONDUCTIVE PARTICLE EVALUATION METHOD

To provide an electrical conductive particle evaluation device capable of a surface condition of an electrical conductive particle covered with fine particles in an easy measurement.SOLUTION: An electrical conductive particle evaluation device 1 evaluating a surface condition of an electrical conductive particle covered with fine particles is provided with: an area specification part 102 specifying a target area including electrical conductive particles on a two-dimensional image obtained by capturing a plurality of electrical conductive particles ; a circle area setting part 103 setting a circle area inside of the target area referring a position of the two-dimensional image in the target area; a threshold value determination part 104 determining a threshold value based on a luminance value in the circle area of the two-dimensional image; an image creation part 105 creating a binarized image through binarizing the two-dimensional image in the circle area into two pixel values based on the threshold value; and an evaluation value calculation part 106 calculating an evaluation value of a covering condition of the fine particles on the surface of the electrical conductive particle.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】簡便な測定によって微粒子で被覆された導電粒子の表面状態を診断すること。【解決手段】導電粒子評価装置１は、微粒子で被覆された導電粒子の表面状態を評価する導電粒子評価装置であって、複数の導電粒子を撮像した二次元画像を対象に、導電粒子が含まれる対象領域を特定する領域特定部１０２と、対象領域の二次元画像上の位置を基準に対象領域の内側の円領域を設定する円領域設定部１０３と、二次元画像の円領域内における輝度値を基に閾値を決定する閾値決定部１０４と、閾値を基に円領域内の二次元画像を２つの画素値に二値化して二値化画像を生成する画像生成部１０５と、二値化画像の円領域内における全体の画素数に対する２つの画素値のいずれかの画素数の比率を算出することにより、導電粒子の表面における微粒子の被覆状態の評価値を算出する評価値算出部１０６と、を備える。【選択図】図１