INSPECTION SYSTEM

To provide an inspection system in which wiring can be simplified.SOLUTION: An inspection system 1 comprises: an illuminator 2 which illuminates an article M being an inspection object by emitting light from a plurality of light-emitting elements 20; an illumination controller 3 which causes light t...

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Hauptverfasser: KOTO ATSUSHI, HAYASHI YUHEI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide an inspection system in which wiring can be simplified.SOLUTION: An inspection system 1 comprises: an illuminator 2 which illuminates an article M being an inspection object by emitting light from a plurality of light-emitting elements 20; an illumination controller 3 which causes light to be emitted by sequentially supplying the current in each illumination period by dividing the plurality of light-emitting elements 20 into N areas; a camera 4 which sequentially images the article M in an imaging period synchronized with the illumination period; an inspection system control device 5; a first distribution cable 6 which supplies DC power to the illumination controller 3 from the camera 4; and a second distribution cable 7 which supplies DC power to the camera from the inspection system control device 5. Regarding N images captured by the camera 4, one inspection image is reconstructed with inter-image calculation or inter-image calculation and inter-pixel calculation.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】配線を簡素化できる検査システムを提供する。【解決手段】この検査システム1は、複数個の発光素子20から光を放射して検査対象である物品Mを照明する照明器2と、複数個の発光素子20をN個のエリアに分けて各々の照明期間で順次電流を供給して光を放射させる照明コントローラ3と、照明期間と同期する撮影期間で物品Mを順次撮影するカメラ4と、検査システム制御装置5と、カメラ4から照明コントローラ3にDCの電力を供給する第1配線ケーブル6と、検査システム制御装置5からカメラにDCの電力を供給する第2配線ケーブル7と、を備え、カメラ4が撮影したN個の画像は、画像間演算により又は画像間演算と画素間演算により1個の検査画像が再構成される。【選択図】図1