SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS

To suppress contact of a substrate held by a mounting unit with water.SOLUTION: A mounting unit 40 of a substrate processing apparatus holds: an unprocessed substrate that is transferred from an indexer robot to a center robot; and a processed substrate transferred from the center robot to the index...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: WANG ZHIDA, NISHIDE MOTOI, UEHARA DAIKI, OSHIMA KAZUMA
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To suppress contact of a substrate held by a mounting unit with water.SOLUTION: A mounting unit 40 of a substrate processing apparatus holds: an unprocessed substrate that is transferred from an indexer robot to a center robot; and a processed substrate transferred from the center robot to the indexer robot. The mounting unit 40 comprises: a housing 411; a first opening/closing portion 413; and a second opening/closing portion 414. The housing 411 can house a plurality of substrates 9 into an internal space 400 to which a low-moisture gas having moisture lower than that of atmosphere is supplied. The first opening/closing portion 413 opens and closes a portion on a processing block side of the housing 411. The second opening/closing portion 414 is driven independently from the first opening/closing portion 413, and opens and closes a portion on an indexer block side of the housing 411. Thus, contact of the substrate held by the mounting unit 40 with water can be suppressed.SELECTED DRAWING: Figure 11 【課題】載置ユニットに保持されている基板への水分の接触を抑制する。【解決手段】基板処理装置の載置ユニット40は、インデクサロボットからセンターロボットへと渡される未処理の基板、および、センターロボットからインデクサロボットへと渡される処理済みの基板を保持する。載置ユニット40は、筐体411と、第1開閉部413と、第2開閉部414とを備える。筐体411は、大気よりも湿度が低い低湿度ガスが供給される内部空間400に複数の基板9を収容可能である。第1開閉部413は、筐体411の処理ブロック側の部位を開閉する。第2開閉部414は、第1開閉部413とは独立して駆動され、筐体411のインデクサブロック側の部位を開閉する。これにより、載置ユニット40に保持されている基板に対する水分の接触を抑制することができる。【選択図】図11