BONDING APPARATUS AND BONDING METHOD

To provide a technique for improving alignment accuracy before bonding.SOLUTION: A bonding apparatus bonds a first substrate having a first alignment mark and a second substrate having a second alignment mark. When a first imaging unit images the second alignment mark, a first irradiation unit irrad...

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1. Verfasser: MATSUO YUHEI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a technique for improving alignment accuracy before bonding.SOLUTION: A bonding apparatus bonds a first substrate having a first alignment mark and a second substrate having a second alignment mark. When a first imaging unit images the second alignment mark, a first irradiation unit irradiates an imaging area of the first imaging unit with white light. When a second imaging unit images the first alignment mark, a second irradiation unit irradiates an imaging area of the second imaging unit with white light. A control unit detects positions of the first alignment mark and the second alignment mark by processing images captured by the first imaging unit and the second imaging unit. The control unit corrects the detected position of the first alignment mark on the basis of a relationship between the wavelength and the intensity of reflected light reflected on the first substrate. The control unit controls a moving unit on the basis of the corrected position of the first alignment mark.SELECTED DRAWING: Figure 8 【課題】接合前のアライメント精度を向上する、技術を提供する。【解決手段】接合装置は、第1アライメントマークを有する第1基板と、第2アライメントマークを有する第2基板と、を接合する。第1撮像部が第2アライメントマークを撮像する際に、第1照射部が第1撮像部の撮像エリアに白色光を照射する。第2撮像部が第1アライメントマークを撮像する際に、第2照射部が第2撮像部の撮像エリアに白色光を照射する。制御部は、第1撮像部と前記第2撮像部で撮像した画像を処理することで第1アライメントマークと第2アライメントマークの位置を検出する。制御部は、検出した第1アライメントマークの位置を、第1基板で反射した反射光の波長と強度の関係を基に補正する。制御部は、補正した第1アライメントマークの位置を基に移動部を制御する。【選択図】図8