ABNORMALITY DETERMINATION DEVICE, ABNORMALITY DETERMINATION METHOD, ABNORMALITY DETERMINATION SYSTEM, METHOD FOR CONTROLLING THE ABNORMALITY DETERMINATION SYSTEM, AND PROGRAM

To properly determine an abnormality on the basis of time-series data of status parameters during operation.SOLUTION: An abnormality determination device for determining an abnormality of a device in which a temporal change of status parameters during operation indicates a specific profile waveform comprises a time-series data acquisition unit, a slide window setting unit, and an abnormality determination unit. The time-series acquisition unit acquires time-series data including a plurality of temporarily continuous data about the status parameters. The slide window setting unit sets a length of the slide window indicating the number of data included in the time-series data. The abnormality determination unit extracts a plurality of reference time-series data corresponding to the time-series data from reference data indicating a temporal change of the status parameters corresponding to a normal operation status of a device, and determines the presence and absence of an abnormality in the device by comparing the time-series data having the length of the slide window set by the slide window setting unit with the plurality of reference time-series data while sliding the slide window.SELECTED DRAWING: Figure 4 【課題】動作時の状態パラメータの時系列データに基づいて異常を適切に判定する。【解決手段】異常判定装置は、動作時に状態パラメータの時間変化が特定のプロファイル波形を示す機器の異常を判定するための装置であって、時系列データ取得部、スライド窓設定部、及び、異常判定部を備える。時系列データ取得部は、状態パラメータについて時間的に連続する複数のデータを含む時系列データを取得する。スライド窓設定部は、時系列データに含まれるデータ数を示すスライド窓の長さを設定する。異常判定部は、機器の正常な動作状態に対応する前記状態パラメータの時間変化を示す基準データから、時系列データに対応する複数の基準時系列データを抽出し、スライド窓設定部により設定されたスライド窓の長さを有する時系列データと複数の基準時系列データとをスライド窓をスライドしながら比較することにより、機器について異常の有無を判定する。【選択図】図４