STRAIN ANALYSIS SYSTEM AND STRAIN ANALYSIS METHOD
To easily obtain information on a structure in obtaining image data of the structure for strain analysis.SOLUTION: In a strain analysis system S, an imaging device 1 captures an image of a bridge 4 provided with a two-dimensional code 5 to obtain image data to record the data in a recording medium 3...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To easily obtain information on a structure in obtaining image data of the structure for strain analysis.SOLUTION: In a strain analysis system S, an imaging device 1 captures an image of a bridge 4 provided with a two-dimensional code 5 to obtain image data to record the data in a recording medium 3. A strain analysis device 2 obtains incidental information on the bridge 4 on the basis of captured image information of the two-dimensional code 5 included in the image data recorded in the recording medium 3, and extracts a plurality of measurement points preset in the two-dimensional code 5, and calculates a distance between the extracted respective measurement points to calculate a strain amount of the bridge 4 on the basis of the calculated distance between the respective measurement points.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】ひずみ解析用の構造物の画像データを取得する際に、その構造物に関する情報を容易に取得する。【解決手段】ひずみ解析システムSにおいて、撮像装置1は、二次元コード5が設けられた橋梁4を撮影して画像データを取得し、記録媒体3に記録する。ひずみ解析装置2は、記録媒体3に記録された画像データに含まれる二次元コード5の撮影画像情報に基づいて、橋梁4に関する付帯情報を取得するとともに、二次元コード5内に予め設定された複数の計測点を抽出し、抽出した各計測点間の距離を算出し、算出した各計測点間の距離に基づいて橋梁4のひずみ量を算出する。【選択図】図1 |
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