METAL STRIP PROCESSING METHOD, METAL STRIP MANUFACTURING METHOD, AND PRINTING STATE DETERMINATION DEVICE
To ensure determination of whether a printed state of a mark is good by correcting position information of the re-printed mark when re-printing of the mark is carried out at a processing line different from a printed processing line.SOLUTION: A metal strip processing method comprises the steps of: a...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To ensure determination of whether a printed state of a mark is good by correcting position information of the re-printed mark when re-printing of the mark is carried out at a processing line different from a printed processing line.SOLUTION: A metal strip processing method comprises the steps of: adding a first position identifying mark to a metal strip at a first processing line; generating first defect mark information; detecting a reference mark at a second processing line; adding, after a step of cutting off a metal strip part to which the first position identifying mark has been added, a second position identifying mark to the same position as that of the first position identifying mark in a longitudinal direction with respect to the metal strip; detecting the second position identifying mark; correcting detection position information of the second position identifying mark on the basis of a distance of the second position identifying mark in the metal strip calculated from a result of distance measurement processing between the reference mark and the second position identifying mark; and determining whether printing of the second position identifying mark is good on the basis of comparison of the first and second position identifying marks with each other.SELECTED DRAWING: Figure 7
【課題】印字した処理ラインとは別の処理ラインでのマークの再印字が行われた場合に、再印字されたマークの位置情報の校正を行い、当該マークの印字状態の良否の判定を確実に行う。【解決手段】第1の処理ラインで金属帯に対し第1の位置特定マークを付与する工程と、第1の欠陥マーク情報を生成する工程と、第2の処理ラインで、参照マークを検出する工程と、第1の位置特定マークが付与された金属帯部分を切除する工程の後に、金属帯に対し第1の位置特定マークと長手方向の同じ位置に第2の位置特定マークを付与する工程と、第2の位置特定マークを検出する工程と、参照マークと第2の位置特定マークとの間の距離測定処理の結果から算出された第2の位置特定マークの金属帯における距離を基に第2の位置特定マークの検出位置情報を校正する工程と、第1及び第2の位置特定マークの比較から第2の位置特定マークの印字良否を判定する工程とを備える。【選択図】図7 |
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