MOLD DIE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
To provide a mold die capable of suppressing occurrence of resin waste attaching to an air vent and a method for manufacturing a semiconductor device, in which the mold die is used.SOLUTION: A mold die A10 includes a first die 10 and a second die 20. When the first die 10 and the second die 20 are b...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To provide a mold die capable of suppressing occurrence of resin waste attaching to an air vent and a method for manufacturing a semiconductor device, in which the mold die is used.SOLUTION: A mold die A10 includes a first die 10 and a second die 20. When the first die 10 and the second die 20 are butted in a first direction z, a molding cavity 31 is formed by the first die 10 and the second die 20. The first die 10 is provided with a first air vent 14 which is recessed in the first direction z and connected to the molding cavity 31. The first air vent 14 includes a first portion 141 and a second portion 142. The second portion 142 is connected to the first portion 141. The second portion 142 is located on a side opposite to the molding cavity 31 with the first portion 141 sandwiched therebetween in a second direction x. A size h2 of the second portion 142 in the first direction z is greater than a size h1 of the first portion 141 in the first direction z.SELECTED DRAWING: Figure 4
【課題】 エアベントに付着する樹脂屑の発生を抑制することが可能なモールド金型と、当該モールド金型を用いた半導体装置の製造方法とを提供する。【解決手段】 モールド金型A10は、第1金型10および第2金型20を備える。第1金型10と第2金型20とが第1方向zに突き合わされると、成形空洞31が第1金型10および第2金型20によって形成される。第1金型10には、第1方向zに凹み、かつ成形空洞31につながる第1エアベント14が設けられている。第1エアベント14は、第1部141および第2部142を含む。第2部142は、第1部141につながっている。第2部142は、第2方向xにおいて第1部141を間に挟んで成形空洞31とは反対側に位置する。第2部142の第1方向zの寸法h2は、第1部141の第1方向zの寸法h1よりも大きい。【選択図】 図4 |
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