ANALYZER, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM

To provide an analyzer capable of improving analysis accuracy when analyzing the composition of a material to be measured based on spectral data.SOLUTION: An analyzer 20 includes: an acquisition unit 200 that acquires measurement data MD, which is spectral data of a material to be measured, and mult...

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Hauptverfasser: SHIRATORI HANAE, YANO MASAO, ITAKURA TOMOYA
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide an analyzer capable of improving analysis accuracy when analyzing the composition of a material to be measured based on spectral data.SOLUTION: An analyzer 20 includes: an acquisition unit 200 that acquires measurement data MD, which is spectral data of a material to be measured, and multiple reference data RD, which are the spectral data of the candidate components; a detection unit 210 that detects an index of the peak value on the acquired measurement data MD; a configuration unit 220 that reconfigures the measurement data MD based on the index of detected measurement data MD; and an estimation unit 230 that estimates the composition of the material under test by regressing using Lasso regression, which is the reconstructed measurement data MD of non-negative linear least squares.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】スペクトルデータに基づいて被測定材料の成分を解析する場合において、解析精度の向上を図ること。【解決手段】解析装置20は、被測定材料のスペクトルデータである測定データMD、及び候補となる成分のスペクトルデータである複数の参照データRDを取得する取得部200と、取得された測定データMDに対し、ピーク値のインデックスを検出する検出部210と、検出された測定データMDの前記インデックスに基づいて測定データMDを再構成する構成部220と、各参照データRDに対して再構成された測定データMDを非負の線形最小二乗法であるラッソ回帰を用いて回帰することで、前記被測定材料の成分を推定する推定部230と、を備えている。【選択図】図2