DRAWING APPARATUS AND DRAWING METHOD
To improve throughput in a drawing apparatus that has a first substrate holding part and a second substrate holding part.SOLUTION: A drawing apparatus 1 includes a drawing head 41, a first stage 21a, a second stage 21b, and a first distance measuring sensor 5. While a pattern is drawn on a substrate...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To improve throughput in a drawing apparatus that has a first substrate holding part and a second substrate holding part.SOLUTION: A drawing apparatus 1 includes a drawing head 41, a first stage 21a, a second stage 21b, and a first distance measuring sensor 5. While a pattern is drawn on a substrate 9 held by one stage, a sensor element 51 of the first distance measurement sensor 5 acquires a distance between the substrate and a measurement position on a substrate 9 held by the other stage. The drawing head 41 includes a second distance measuring sensor 412 that acquires a distance between the substrate held by the other state and a measurement position on the substrate 9 where the pattern is being drawn. A focus control unit of a control unit 10 controls a focus position of light emitted from the drawing head 41 using information acquired from the substrate 9 by the first distance measurement sensor 5 before the pattern is drawn and information acquired from the second distance measurement sensor 412 while the pattern is drawn on the substrate 9.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】第1基板保持部および第2基板保持部を有する描画装置において、スループットを向上する。【解決手段】描画装置1は、描画ヘッド41と、第1ステージ21aおよび第2ステージ21bと、第1測距センサ5とを有する。第1測距センサ5のセンサ要素51は、一方のステージに保持された基板9にパターンが描画される間に、他方のステージに保持された基板9上の測定位置との間の距離を取得する。描画ヘッド41は、パターンの描画を行っている基板9上の測定位置との間の距離を取得する第2測距センサ412を含む。制御部10のフォーカス制御部は、パターンの描画前に第1測距センサ5により基板9から取得された情報と、当該基板9にパターンを描画中に第2測距センサ412から取得される情報とを用いて描画ヘッド41から出射される光のフォーカス位置を制御する。【選択図】図1 |
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