METHOD FOR MANUFACTURING PN JUNCTION DIODE

To provide a method for manufacturing a pn junction diode with reduced rise voltage.SOLUTION: The method for manufacturing a pn junction diode of the present disclosure includes providing a pn junction diode precursor having a Li-doped p-type NiO semiconductor layer on an n-type gallium oxide semico...

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Hauptverfasser: KAWATARI MIKIHISA, TANNO KATSUNORI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a method for manufacturing a pn junction diode with reduced rise voltage.SOLUTION: The method for manufacturing a pn junction diode of the present disclosure includes providing a pn junction diode precursor having a Li-doped p-type NiO semiconductor layer on an n-type gallium oxide semiconductor layer, and annealing the pn junction diode precursor at 400°C to 700°C. The p-type NiO semiconductor layer may be deposited by a sputtering method using a Li-doped target.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】本開示は、立ち上がり電圧が低減されたpn接合ダイオードを製造する方法を提供する。【解決手段】本開示の製造方法は、n型酸化ガリウム半導体層上にLiドープp型NiO半導体層を有するpn接合ダイオード前駆体を提供すること、及び前記pn接合ダイオード前駆体を400℃~700℃で熱処理すること、を含む、pn接合ダイオードの製造方法である。p型NiO半導体層の成膜は、NiOにLiが添加されたターゲットを用いるスパッタリング法によって行ってよい。【選択図】図2