METHOD, SYSTEM, COMPUTER PROGRAM AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM FOR DIAGNOSING FAULTY CIRCUIT ELEMENTS

To diagnose faulty circuit elements using built-in self-test circuits.SOLUTION: A method includes executing a test for a first structure and a second structure of a built-in self-test circuit. Each of the first and second structures includes a plurality of latches arranged as a plurality of stump chains. The method also includes unloading a first result of the test from the plurality of stump chains of the first structure, and unloading a second result of the test from the plurality of stump chains of the second structure. The method further includes determining that the stump chains of the first structure include a faulty latch on the basis of the first result not matching the second result.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】ビルトイン・セルフ・テスト回路を用いて、故障した回路素子を診断する。【解決手段】方法は、ビルトイン・セルフ・テスト回路の第１の構造体および第２の構造体に対してテストを実行することを含む。第１および第２の構造体のそれぞれは、複数のスタンプ・チェーンとして配置された複数のラッチを含む。本方法はまた、第１の構造体の複数のスタンプ・チェーンからテストの第１の結果をアンロードし、第２の構造体の複数のスタンプ・チェーンからテストの第２の結果をアンロードすることを含む。本方法は、第１の結果が第２の結果と一致しないことに基づいて、第１の構造体の複数のスタンプ・チェーンが故障したラッチを含むと判定することをさらに含む。【選択図】図１