LOGIC INTEGRATED CIRCUIT AND HIGH SAFETY CONTROL SYSTEM USING THE SAME
To provide a logic integrated circuit and a high safety control system using the logic integrated circuit that can avoid explosion in the number of test patterns and reduce the circuit scale of an external verification circuit that checks the output of a logic element when self-checking logic is rea...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To provide a logic integrated circuit and a high safety control system using the logic integrated circuit that can avoid explosion in the number of test patterns and reduce the circuit scale of an external verification circuit that checks the output of a logic element when self-checking logic is realized with a programmable element in an electronic control device.SOLUTION: A logic integrated circuit includes a logic circuit consisting of multiple stages including multiple logic elements that output values, and performing logical operations on input values, and a verification circuit that verifies the output value of the logic element of the logic circuit, and the verification circuit uses the output of multiple stages as a test target unit. In this way, the explosion of the number of test patterns can be avoided and the circuit scale of an external verification circuit can be reduced by setting the output of a larger number of logic elements as one test target unit until just before the number of test patterns explodes.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】電子制御装置において、セルフチェッキング論理をプログラマブル素子によって実現するにあたり、テストパターン数の爆発を回避すると共に、論理エレメントの出力をチェックする外部検証回路の回路規模を削減することが可能な論理集積回路及び論理集積回路を用いた高安全制御システムを提供することを目的とする。【解決手段】入力値に対し論理演算を行い、出力値を出力する複数の論理エレメントを含む複数の段からなる論理回路と、論理回路の論理エレメントの出力値を検証する検証回路と、を備える論理集積回路において、検証回路は、複数の段による出力をテスト対象単位とする。このように、テストパターン数が爆発する直前まで、より多くの数の論理エレメントの出力を一つのテスト対象単位とすることで、テストパターン数の爆発を回避すると共に、外部検証回路の回路規模を削減することができる。【選択図】図1 |
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